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分類： 新聞資訊
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薄膜沉積技術(shù)與應(yīng)用
薄膜沉積技術(shù)作為一種重要的材料制備方法，廣泛應(yīng)用于電子器件制造、光學(xué)鍍膜、新能源領(lǐng)域以及功能性薄膜等諸多領(lǐng)域。…
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ITO薄膜方阻測(cè)量
ITO 薄膜即銦錫氧化物半導(dǎo)體透明導(dǎo)電膜， 通常有兩個(gè)性能指標(biāo)：方塊電阻(面電阻)和透過(guò)率 ITO 薄膜 在氧…
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電阻率的三種測(cè)量方法
測(cè)量導(dǎo)體電阻率的方法是通過(guò)一對(duì)引線強(qiáng)制電流流過(guò)樣品，用另一對(duì)引線測(cè)量其電壓降來(lái)決定已知幾何尺寸的樣品的電阻。 …
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四探針測(cè)量原理
四探針?lè)ㄊ且环N簡(jiǎn)便的測(cè)量電阻率的方法。 四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)：它不需要較準(zhǔn)，有時(shí)用其它方法測(cè)量電…
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STZ—3型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀：精準(zhǔn)高效的材料檢測(cè)利器
在現(xiàn)代半導(dǎo)體工業(yè)中，硅單晶材料的導(dǎo)電類型（“P”型或“N”型）是決定其應(yīng)用性能的關(guān)鍵參數(shù)之一。為了滿足半導(dǎo)體材…
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四探針電阻率測(cè)試儀選購(gòu)指南：這些坑你一定要避開(kāi)！
在半導(dǎo)體、新能源、材料研發(fā)等領(lǐng)域，四探針電阻率測(cè)試儀是衡量材料導(dǎo)電性能的核心工具。無(wú)論是硅片、薄膜材料，還是石…
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粉末電阻率測(cè)試儀選購(gòu)指南：DeepSeek教你避開(kāi)這些坑！
在材料科學(xué)、新能源、電子制造等領(lǐng)域，粉末電阻率測(cè)試儀是一個(gè)不可或缺的工具。無(wú)論是研發(fā)新材料，還是優(yōu)化生產(chǎn)工藝，…
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半導(dǎo)體材料工程師怎么可以不知道SZT-2C四探針測(cè)試儀
精準(zhǔn)測(cè)量電阻率、方塊電阻等參數(shù)直接影響著材料的性能和器件的可靠性。這在半導(dǎo)體材料研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中起著至關(guān)重要的…
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合測(cè)試儀SZT-5.gif)
硅材料復(fù)合測(cè)試儀SZT-5：電子工程師和研究人員的得力助手
這款由蘇州同創(chuàng)電子有限公司研發(fā)的硅材料復(fù)合測(cè)試儀SZT-5，結(jié)合了二種硅材料測(cè)試儀器的功能，為用戶提供了前所未…
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粉末電阻率測(cè)試儀選購(gòu)指南：避免這5個(gè)常見(jiàn)誤區(qū)！
在選購(gòu)粉末電阻率測(cè)試儀時(shí)，避免以下幾個(gè)常見(jiàn)誤區(qū)是非常重要的： 在選購(gòu)粉末電阻率測(cè)試儀時(shí)，應(yīng)綜合考慮儀器的精確度…